成套高低壓開(kāi)關(guān)柜中的晶閘管是交流變頻鏈路的主要部件，該鏈路將電網(wǎng)中的工頻50Hz電流轉(zhuǎn)換為與電機(jī)轉(zhuǎn)子頻率相同的低頻電流?？煽毓枵髌鞅举|(zhì)上是一個(gè)開(kāi)關(guān)元件，通過(guò)控制極控制開(kāi)關(guān)。

可控硅控制電極，也稱(chēng)為觸發(fā)電極，從可控硅引出并用螺釘固定在絕緣板上。與觸發(fā)線連接的輻射器端子是可控硅的陰極。陰極和陽(yáng)極也可以通過(guò)測(cè)量電阻來(lái)區(qū)分。判斷晶閘管是否良好的簡(jiǎn)單方法是測(cè)量其極間的電阻。良好晶閘管的極間電阻如下：

觸發(fā)電極和陰極-數(shù)十歐姆；

觸發(fā)極和陽(yáng)極-幾十千歐姆或更多；

陰極和陽(yáng)極——幾十千歐姆或更多。

在實(shí)際測(cè)量時(shí)，應(yīng)拉出傳動(dòng)板，以確保測(cè)量準(zhǔn)確。如果發(fā)現(xiàn)四個(gè)晶閘管的電阻值均為零，則通常只有單個(gè)晶閘管為零。斷開(kāi)連接的母線并重新測(cè)量。更換可控硅整流器時(shí)，注意平衡鋼球的位置，一定要將散熱器壓緊，否則容易過(guò)熱燒壞可控硅整流器。更換后，再次檢查電阻。

晶閘管損壞原因判斷：

當(dāng)需要檢查和分析晶閘管損壞的原因時(shí)，將管芯從冷卻套中取出，打開(kāi)芯盒，然后取出芯片觀察其損壞情況，以確定損壞原因。

以下介紹了幾種常見(jiàn)現(xiàn)象的分析：

1.電壓擊穿。晶閘管由于無(wú)法承受電壓而損壞，其芯片上有一個(gè)光滑的孔，有時(shí)只能用擴(kuò)展鏡才能看到。原因可能是當(dāng)電路斷開(kāi)時(shí)，管道本身的耐受電壓下降或發(fā)生高壓擊穿。

2.電流損壞。電流損壞的特點(diǎn)是芯片被燒成一個(gè)坑，粗糙，遠(yuǎn)離控制桿。

3.電流上升率受損。這與電流損壞相同，但其位置在控制桿附近或控制桿上。

4.邊緣損壞。它發(fā)生在芯片的外角，帶有小而光滑的孔。用放大鏡，可以在倒角表面看到細(xì)小的金屬劃痕。這是由于成套高低壓開(kāi)關(guān)柜制造商安裝不當(dāng)造成的。它會(huì)導(dǎo)致電壓擊穿。